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電子薄膜應(yīng)力分布測(cè)定儀 型號(hào)：BGS-6341主要應(yīng)用在微電子、光電子生產(chǎn)線上和科研、教學(xué)等域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形、 基片曲率半徑測(cè)量測(cè)試。該儀器總測(cè)量點(diǎn)數(shù)多, 能給出場(chǎng)面型分布結(jié)果, 適合于微電子生產(chǎn)線上產(chǎn)量的快速檢驗(yàn)和微電子生產(chǎn)藝研究。
瓦楞紙板厚度測(cè)定儀 ；型號(hào) HAD-PN-PT20該產(chǎn)品適用于瓦楞紙板厚度測(cè)定，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：IS3034、QB/T1055、GB451.3。
接地電阻·土壤電阻率測(cè)定儀 型號(hào)：3010E由微處理器控制，可自動(dòng)檢測(cè)各接口連接狀況及地網(wǎng)的干擾電壓、干擾頻率，并且具測(cè)試輔助接地電阻值能。同時(shí)存儲(chǔ)500組數(shù)據(jù)，電阻測(cè)量范圍：0.01Ω～30.00kΩ，接地電壓范圍：0.01～600V。
藥片硬度脆碎度測(cè)定儀 PJ2由采用單片微型計(jì)算機(jī)等組成的密自動(dòng)控制系統(tǒng)對(duì)各件行集中控制；儀器自動(dòng)化程度，控制簡(jiǎn)單，操作方便，測(cè)試準(zhǔn)確，靈敏度，型簡(jiǎn)潔，噪音較低。
活性氧測(cè)定儀 型號(hào)：HXO2采用固體發(fā)光器既作光源又作單色器，與傳統(tǒng)分光系統(tǒng)相比，光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，儀器具有抗震、抗潮性能；試劑采用固體立真空包裝，保質(zhì)期長(zhǎng)。
智能片劑硬度測(cè)定儀 HAD-700可以對(duì)片劑的直徑和硬度值行測(cè)量，在檢測(cè)過程中可以自動(dòng)記錄和統(tǒng)計(jì)檢測(cè)藥片的大值、小值和平均值.
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