描述:該產(chǎn)品主要應(yīng)用在微電子、光電子線上和科研、教學(xué)等域Si、Ge、GaAs等半導(dǎo)體基片及電子薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)零件面形和平整度面形、 基片曲率 半徑測量測試。該儀器總測量點數(shù)多, 能給出場面型分布結(jié)果, 適合于微電子線上產(chǎn)量的快速檢驗和微電子研究。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-04-16訪問量
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品牌 | 恒奧德 |
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電子薄膜應(yīng)力分布測試儀 型號:BGS-6341
際*的錯位相移 |
計算機自動條紋處理 |
測試過程自動 |
的曲面補償測試原理 |
≤100mm (4英寸) | |
|R|≥5米 | |
5% | |
3分鐘/片 | |
面形、曲率半徑、應(yīng)力分布、公式表示、數(shù)據(jù)表格 | |
三維立體顯示、二維偽彩色顯示、單截面曲線顯示 | |
AC 220V±10%, 50Hz±5% | |
100W | |
285mm×680mm×450mm | |
36kg |
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