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型號：GSZ-RTS-8

四探針測試儀 測試儀

描述：四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

  • 更新時(shí)間

    2024-04-12

  • 訪問量

    925
詳細(xì)介紹
品牌恒奧德

四探針測試儀   測試儀                      型號：GSZ-RTS-8

 
四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的用儀器。
    儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
    儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。
    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
 
 
 
 
 
 
 
2.
產(chǎn)品名稱：錯(cuò)覺試驗(yàn)儀
產(chǎn)品型號：HAD-BD-II-113

錯(cuò)覺試驗(yàn)儀      型號；HAD-BD-II-113

HAD-BD－Ⅱ－113型  錯(cuò)覺實(shí)驗(yàn)儀主要是證實(shí)繆勒－萊伊爾視錯(cuò)覺現(xiàn)象的存在和研究錯(cuò)覺量大小。

主要標(biāo)：
1. 線段總長度：200mm，箭頭線與箭尾線長度可調(diào)，可調(diào)范圍±20mm
2. 錯(cuò)覺量長度讀數(shù)誤差：＜0.1mm，位于儀器的背面
3. 箭羽長度：25mm
4. 箭羽線夾角：30°、45°、60°
5. 選用種夾角箭羽線時(shí)的檔板：2塊
 
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