描述:數(shù)字式自動(dòng)旋光儀/參數(shù): 測(cè)量范圍:-45°~ +45°,-120°Z ~ +120°Z Z小讀數(shù)值:0.001° 準(zhǔn)確度:±(0.01°+測(cè)量值×0.05%),±(0.03°Z+測(cè)量值×0.05%)重復(fù)性:≤0.003°,≤0.03°Z 可測(cè)樣品Z低透過率:10%質(zhì)量:28kg 外形尺寸:600mm×310mm×212mm
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2024-04-28訪問量
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1:數(shù)字式自動(dòng)旋光儀/自動(dòng)旋光儀 型號(hào):HAD-WZZ-3
點(diǎn):采用光電檢測(cè)和微機(jī)控制,128X64位元液晶顯示,可測(cè)試比旋度、旋光度、糖度、可自動(dòng)復(fù)測(cè)并計(jì)算均值和均方根,配有RS232接口,可向PC機(jī)傳送數(shù)據(jù)。
數(shù)字式自動(dòng)旋光儀/參數(shù):
測(cè)量范圍:-45°~ +45°,-120°Z ~ +120°Z
zui小讀數(shù)值:0.001°
準(zhǔn)確度:±(0.01°+測(cè)量值×0.05%),±(0.03°Z+測(cè)量值×0.05%)
重復(fù)性:≤0.003°,≤0.03°Z
可測(cè)樣品zui低透過率:10%
質(zhì)量:28kg
外形尺寸:600mm×310mm×212mm
2:側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀 型號(hào):QXH-CM-3
側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀用途
QXH-CM-3型側(cè)面光檢測(cè)儀是依據(jù)中華人民共和家標(biāo)準(zhǔn)GB11614-2009《浮法玻璃》要求,用于檢測(cè)浮法玻璃外觀缺陷的輔助設(shè)備,與外觀檢測(cè)儀配合使用,可以測(cè)試浮法玻璃各種缺陷的數(shù)量和尺寸,是浮法玻璃企業(yè)的質(zhì)檢設(shè)備。
二、側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀原理
QXH-CM-3型側(cè)面光檢測(cè)儀在封閉的燈箱內(nèi)裝有碘鎢燈,燈箱上有可以開啟的狹縫,玻璃橫插入狹縫向前運(yùn)行,光線從玻璃斷面射入玻璃,由于玻璃上各種缺陷對(duì)光線的漫射,缺陷在玻璃板面上呈現(xiàn)亮點(diǎn),記下亮點(diǎn)的位置,用外觀檢測(cè)儀和讀數(shù)顯微鏡檢測(cè)缺陷的種類和大小。
三、側(cè)面光檢測(cè)儀 側(cè)面光測(cè)試儀參數(shù)
1、光源:碘鎢燈 率:1000W
2、狹縫開啟的zui大寬度:20㎜
3、狹縫與光源間距:100㎜
4、設(shè)備尺寸:1330㎜×750㎜×900㎜
5、電源:AC.220V
3:壓電加速度傳感器/壓電式壓力傳感器 型號(hào):HAD/8602
標(biāo)性 型號(hào)
HAD/8601 HAD/8602 HAD/8603
量程 ±50,±100g ±200,±500g ±300,±500g
靈敏度 ~60,~30pC/g ~25,~10pC/g ~2,~1pC/g
過載 能力 振動(dòng) 150%F.S 150%F.S 150%F.S
沖擊 2000g,3000g 5000g 5000g,7000g
固有頻率 6kHz,15kHz 8kHz,12kHz 12kHz,15kHz
非線性 ≤5% ≤5% ≤5%
橫向靈敏度比 ≤5% ≤5% ≤5%
作溫度 -45~80℃ -45~80℃ -45~80℃
安裝方式 M5螺柱 M5螺柱 M5螺柱
應(yīng)用 通用性 通用性 溫、頻振動(dòng)測(cè)量
4:手動(dòng)涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器 型號(hào):HAD-III
薄層手動(dòng)涂敷器/手動(dòng)涂敷器/薄層制板器/薄層鋪板器 , 共有三種型號(hào) :
HAD-I 型為涂敷 10cm 寬薄層板,配有個(gè)小型 10cm
寬涂敷框,制備5x10,10x10,20×10cm薄層板
HAD-II 型為涂敷 20cm 寬薄層板,配有個(gè)大型 20cm
寬涂敷框,制備板規(guī)格為 5 × 20 、10 × 20
20 ×20cm 薄層板。
HAD-III 涂敷器 綜合了 I 型和 II 型的優(yōu)點(diǎn)和結(jié)構(gòu)方式,
配有大小兩種涂敷框,在個(gè)涂板座上
可成上述各種規(guī)格薄層板的制備作 薄層板均能涂敷
材質(zhì):鋁合金噴塑,*生銹,經(jīng)久耐用。。涂敷框可調(diào)層厚度0.02-2mm。
詳細(xì)說明 鋪板.doc
5: 靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀/靜電場(chǎng)描繪試驗(yàn)儀/導(dǎo)電微晶靜電場(chǎng)描繪儀型號(hào):HAD/GVZ-3
靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀/靜電場(chǎng)描繪試驗(yàn)儀/導(dǎo)電微晶靜電場(chǎng)描繪儀主要參數(shù):
1.HAD/GVZ-3型為雙層,同步探針,內(nèi)置四種電板(同心圓、平行導(dǎo)線、聚焦、劈尖形或飛機(jī)機(jī)翼電場(chǎng))。
2.規(guī)格為410mm*240mm,100mm,K4-2導(dǎo)線。
3.微晶導(dǎo)電層的均勻性,實(shí)驗(yàn)值誤差為小于2%。
4.電源輸出范圍(直)為7.00v—13.00V,分辨率為0.01V。
5.采用多圈電位器調(diào)節(jié)電壓,調(diào)節(jié)細(xì)度可達(dá)0.01V。
四種電(配數(shù)碼管電源3位半)
(同心圓R為7cm,r為1cm, 其他電距離均為10cm)
1. 靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀/靜電場(chǎng)描繪試驗(yàn)儀/導(dǎo)電微晶靜電場(chǎng)描繪儀儀器簡(jiǎn)介
本儀器采用各向均勻?qū)щ姷奈⒕?dǎo)電板,在其上面安置些不同的金屬電。當(dāng)有直電經(jīng)兩個(gè)電在導(dǎo)電板上通過時(shí),由于微晶導(dǎo)電板相對(duì)于金屬導(dǎo)體電導(dǎo)率低得多,故在兩個(gè)電間沿電線會(huì)存在不同的電勢(shì),這種不同的電勢(shì)可用數(shù)字電壓表直接測(cè)出來。分析各測(cè)量點(diǎn)電勢(shì)的變化規(guī)律,就可間接地得知相似的靜電場(chǎng)中電勢(shì)分布規(guī)律。
2.使用方法
(1)接線:
靜電場(chǎng)用穩(wěn)壓電源輸出+(紅)接線柱用紅色電線連接描繪架(紅)、-(黑)接線柱用黑色電線連接描繪架(黑)接線柱。用穩(wěn)壓電源探針輸入+(紅色)接線柱用紅色電線連接探針架連接線柱。將探針架好,并使探針下探頭置于導(dǎo)電微晶電上,啟動(dòng)開關(guān),校正,后測(cè)量。
(2)測(cè)量:
開啟測(cè)量開關(guān),如數(shù)字顯字為0 V,則移動(dòng)探針架至另電上,數(shù)字顯10 V,般常用10 V,便于運(yùn)算。然后縱橫移動(dòng)探針架,則電源電壓表頭顯示讀數(shù)隨著運(yùn)動(dòng)而變化。如要測(cè)0 V~10 V間的何條等勢(shì)(位)線,般可選0 V~10 V間某電壓數(shù)據(jù)相同的8~10個(gè)點(diǎn),再將這些點(diǎn)連成光滑的曲線即可得到此等勢(shì)(位)線。
(3)記錄:
實(shí)驗(yàn)報(bào)告都需要記錄,以備學(xué)生計(jì)算或驗(yàn)證,對(duì)模擬法作深刻研究,則需在描繪架上鋪平白紙,用橡膠磁條吸住,當(dāng)表頭顯示讀數(shù)認(rèn)為需要記錄時(shí),輕輕按下,即能清晰記下小點(diǎn),般所需記錄電壓請(qǐng)參閱講義或由課教師定奪,為實(shí)驗(yàn)清晰快捷,每等位線8~10點(diǎn),然后連接即可。