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型號(hào):HA-HB

扭力扳手測(cè)試儀 扳手測(cè)試儀

描述: HA-HB系列扭力測(cè)試儀是用于校準(zhǔn)扭力扳手扭矩的儀器。儀器有手動(dòng)、電動(dòng)兩種測(cè)試方式,適用于"1/4"、"3/8"、"1/2"等多種規(guī)格的扭力扳手的扭力校準(zhǔn)。產(chǎn)品具有操作簡(jiǎn)單、測(cè)試等優(yōu)點(diǎn),是科研、廠實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)設(shè)備。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間

    2016-10-05
  • 訪問量

    1325
詳細(xì)介紹
品牌恒奧德

HA-HB系列扭力扳手測(cè)試儀
簡(jiǎn)要介紹


HA-HB系列扭力扳手測(cè)試儀


HA-HB-502雙量程扭力扳手測(cè)試儀

■ HA-HB系列扭力測(cè)試儀是用于校準(zhǔn)扭力扳手扭矩的儀器。儀器有手動(dòng)、電動(dòng)兩種測(cè)試方式,適用于"1/4"、"3/8"、"1/2"等多種規(guī)格的扭力扳手的扭力校準(zhǔn)。產(chǎn)品具有操作簡(jiǎn)單、測(cè)試等優(yōu)點(diǎn),是科研、廠實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)設(shè)備。
■ HA-HB-502雙量程,可由HA-HB-500與其它量程意組合,解決客戶大小量程的測(cè)量問題。
性能點(diǎn)
■ 采用微處理數(shù)字化
■ 亮度LED顯示器
■ 人性化,顯示屏視角可調(diào)
■ 順時(shí)針/逆時(shí)針扭力符號(hào)示
■ zui大報(bào)警值設(shè)定能
■ 數(shù)據(jù)跟蹤、保持能
■ 三種測(cè)量單位自動(dòng)換算
■ 帶RS232接口,用于數(shù)據(jù)記錄和打印
■ 結(jié)構(gòu)分簡(jiǎn)單,堅(jiān)固、原理
標(biāo)
型號(hào)
HA-HB-500
HA-HB-1000
HA-HB-2000
HA-HB-4000
HA-HB-5000
HA-HB-8000
峰值時(shí)測(cè)量范圍
lbf.in
kgf.cn
N.m
25.0~450.0
25.0~500.0
2.50~50.00
25~900
25~1000
2.5~100.0
50~1800
50~2000
5.0~200.0
100~3600
100~4000
10.0~400.0
400~4500
400~5000
40.0~500.0
800~7200 800~8000 80.0~800.0
測(cè)量方式
跟蹤、保持
±1.0%Fs
顯示方式
5位LED顯示
電源
AC 220V-240V 50Hz
尺寸/重量
W×H×D 400mm×260mm×370mm /20Kg
標(biāo)準(zhǔn)附件
LK26010A

 

 

2.

產(chǎn)品名稱:二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):HHY8-GL-1

二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀 型號(hào):HHY8-GL-1

本儀器主要用于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況,以便硅材料的切割和。

    為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展,別是計(jì)算機(jī)芯片、內(nèi)存的發(fā)展,越來越多的使用到了大直徑、純度、均勻度更的單晶硅材料。目前,在美、德等的業(yè)家,均采用了二探針法,使用二探針檢測(cè)儀來測(cè)量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美ASTM “F391-77”關(guān)于二探針測(cè)量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn),是種新型的半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀,適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針法測(cè)量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率,從而步判斷半導(dǎo)體材料的性能,導(dǎo)和監(jiān)視操作,也可以用來測(cè)量金屬材料的電阻,儀器具有測(cè)量度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、型美觀等點(diǎn)。也可以配四探針測(cè)試頭作常規(guī)的四探針法測(cè)量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測(cè)試臺(tái)、探頭三分,儀表電氣控制箱由靈敏度直數(shù)字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩(wěn)定度恒源和電氣控制分組成。測(cè)量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示,零位穩(wěn)定、輸入阻抗,并設(shè)有自校能。在棒狀材料使用二探針法測(cè)試時(shí),具有系數(shù)修正能,從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù),可以直接讀出電阻率,使用方便。測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)新穎,型美觀,可以方便地固定好大小意尺寸的樣品,并可以作逐點(diǎn)選擇步測(cè)量,也可以自由選擇固定位置測(cè)量,電活動(dòng)自如,具備鎖定裝置,方便重復(fù)測(cè)量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅,測(cè)試探頭能自動(dòng)升降,探針為碳化鎢材料,配置寶石軸承,具有測(cè)量度、游移率小、耐磨、使用壽命長(zhǎng)點(diǎn)。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調(diào)整,以適合不同的材料。

儀器主要標(biāo):

1.可測(cè)硅材料尺寸:

     直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。

     長(zhǎng)度:100~1100mm.

2.測(cè)量方式:軸向測(cè)量,每隔10mm測(cè)量點(diǎn)。

3.測(cè)量電阻率范圍:10-3~103Ω-cm,可擴(kuò)展到105Ω-cm。

4.數(shù)字電壓表:

    1)量    程:0.2mV2mV、20mV、200mV、2V

    2)測(cè)量誤差:±0.3%讀數(shù)±2

    3)輸入阻抗:0.2mV2mV>106Ω

                  20mV檔及以上>108Ω

    4)顯    示:31/2LED數(shù)字顯示,范圍0~1999。

5.恒源:

    1)電輸出:直電0~100mA連續(xù)可調(diào)。

    2)量    程:10μA100μA、1mA、10mA、100mA

    3)電誤差:±0.3%讀數(shù)±2

6.二探針測(cè)試裝置:

    1)探針間距:4.77mm

    2)探針機(jī)械游移率:0.3%

    3)探針壓力:0~2kg可調(diào)

    4)測(cè)試探頭自動(dòng)升降

7.二探針測(cè)試臺(tái)

    1)測(cè)試硅單長(zhǎng)度:100-1100mm

    2)測(cè)試點(diǎn)間距:10mm

    3)測(cè)試臺(tái)有慢、快二種移動(dòng)速度,快速移動(dòng)速度為1000mm/分(均勻

手動(dòng))

8.電源:交220V±10%,50HZ±2HZ,消耗率<150W

;www.51658042.com

 

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