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型號:LK-HT-228

磁電阻效應實驗儀

描述:磁電阻效應是近年來的熱門課題,并已有廣泛的應用。本實驗儀主要供學生在實驗室測量巨磁電阻材料的磁電阻之用?;九渲冒姶盆F、大電恒源、數字恒源、數字微伏表、數字斯拉計、樣品、四探針夾具等。

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2024-04-24
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    535
產品分類PRODUCT

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1.磁電阻效應實驗儀 型號:LK-HT-228

磁電阻效應是近年來的熱門課題,并已有廣泛的應用。本實驗儀主要供學生在實驗室測量巨磁電阻材料的磁電阻之用?;九渲冒姶盆F、大電恒源、數字恒源、數字微伏表、數字斯拉計、樣品、四探針夾具等。

主要標:

1.恒電源      0~10mA可調,三位半數字顯示,分辨率10uA,穩(wěn)定度0.5%

2.數字電壓表   測量范圍0~20mV,四位半數字顯示,分辨率1uV,度1%

3.磁場電源      0~6A可調,三位半數字顯示,穩(wěn)定度0.5%  可換向

4.數字斯拉計   測量范圍0~2000mT,四位半數字顯示,分辨率0.1mT,度1%



2.電子天平   型號;HA-JA5003N

稱量范圍:0-510g
zui小讀數:1mg                               
秤盤尺寸:Φ110mm
輸出接口:RS232C
外形尺寸:356mm×330mm×215mm
電源及耗:AC220V50Hz
具有自動故障檢測、自動校準、載保護、
計數、百分比、單位轉換多種能
自動內校型能提供更方便操作


3. 電子天平   型號;HA-JA4003N

稱量范圍:0-410g
zui小讀數:1mg                               
秤盤尺寸:Φ110mm
輸出接口:RS232C
外形尺寸:356mm×330mm×215mm
電源及耗:AC220V50Hz
具有自動故障檢測、自動校準、載保護、
計數、百分比、單位轉換多種能
自動內校型能提供更方便操作



4. 相位法光速測量儀 光速測量儀 型號:LK-LM2000A

對激光光束直接行100MHz的頻調制,移動反光鏡通過測量近程光與遠程光的相位差求得調制光的波長,依據C=f?λ計算出光的傳播速度,即“相位法"。儀器長0.8m,采用半導體器件,性能穩(wěn)定可靠。

測量方法:相位法

    儀器長:0.8m

可變光程:0 – 1m

移相范圍: -

分辨率:  0.2mm

    調制頻率:100MHz

測相頻率:455KHz

頻率穩(wěn)定度:

測量度:小于等于3%

    波形幅度起伏小于等于5%

實驗內容擴展性:  

1)  含光電接收電平示插口和模擬通信接口,可開設模擬激光通信實驗(需增購模擬通信收/發(fā)器)

測量透明介質的折射率 / 介質中光速的測量(需增購透明介質棒/管)



5.電子天平   型號;HA-JA3003N

稱量范圍:0-310g
zui小讀數:1mg                               
秤盤尺寸:Φ110mm
輸出接口:RS232C
外形尺寸:356mm×330mm×215mm
電源及耗:AC220V50Hz
具有自動故障檢測、自動校準、載保護、
計數、百分比、單位轉換多種能
自動內校型能提供更方便操作



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