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淺析少子壽命測(cè)試儀的點(diǎn)

更新時(shí)間:2020-07-07  |  點(diǎn)擊率:471
  少子壽命測(cè)試儀是款硅片少子壽命測(cè)試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量,更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。
 
  下面我給大家講講它的點(diǎn):
 
  1.測(cè)試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測(cè)量。
 
  2.主要應(yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的廠、出廠檢查,過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
 
  3.適用于低阻硅料少子壽命的測(cè)量,電阻率測(cè)量范圍可達(dá)ρ>0.1Ω?cm(可擴(kuò)展至0.01Ω?cm),*了微波光電導(dǎo)無法檢測(cè)低阻單晶硅的問題。
 
  4.程監(jiān)控動(dòng)態(tài)測(cè)試過程,避免了微波光電導(dǎo)(u-PCD)無法觀測(cè)晶體硅陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)缺陷的問題。
 
  5.貫穿深度大,達(dá)500微米,相比微波光電導(dǎo)的30微米的貫穿深度,真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測(cè)量,避免了表面復(fù)合效應(yīng)的干擾。
 
  6.業(yè)定制樣品架滿足了原生多晶硅料企業(yè)測(cè)試多種形狀的硅材料少子壽命的要求,包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。
 
  7.性價(jià)比,價(jià)格遠(yuǎn)低于外外少子壽命測(cè)試儀產(chǎn)品,大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本。
 
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